显微外观检测 · 3D测量方案
—— 让微米级的缺陷与形貌变化,无处可藏

以多帧融合成像与多类型3D扫描为核心,为精密制造提供高精度检测与测量方案
🔬 显微外观检测
显微检测设备
设备核心装置 · 软件界面 · 检测结果

显微外观检测

多帧融合 + AI分类,精准识别微米级表面缺陷,光机算深度耦合。

📐 3D测量及检测
3D点云
3D点云 · 测高 · 平面度

3D测量及检测方案

支持线激光 / 结构光 · 重复精度 ≤10μm · 软件模块化部署。

🧠 智能算法平台
AI软件平台
AI标注 · 离线/在线检测

智能算法平台

AI标注平台 · 离线检测软件 · 在线检测平台 · 支持算法及流程编辑。

20+套晶圆定位系统 · 连续3年服务同一客户
98%以上检出率,1%以下误检金属镀层缺陷检测
≤10μm 3D测量重复精度 · 支持线激光/结构光

核心技术

显微外观检测技术

显微检测设备
📷 设备核心装置图
显微检测软件
🖥️ 软件界面 · 检测结果
多帧采集 → 联合编码 → AI分类 → 复核兜底 ✓ 不依赖高精度对焦 ✓ 算法代偿硬件 ✓ 光机算深度耦合

3D测量及检测方案

3D测量设备
📷 双线激光装置图
3D点云
📊 3D点云 · 测高 / 平面度结果
🔹 支持线激光 / 结构光 🔹 重复精度 ≤10μm 🔹 测高 · 平面度 · 轮廓 🔹 软件模块化部署

智能算法平台

AI标注平台
🧠 AI标注平台
检测软件
⚙️ 离线/在线检测软件
AI标注平台 离线检测软件 在线检测平台 算法及流程编辑

* 平台持续迭代中,已在项目实际应用

应用案例

🧩 半导体 / 泛半导体

晶圆环切定位与切痕检测

晶圆定位装置
📷 晶圆定位装置图
晶圆检测软件
🖥️ 软件界面 · 检测结果
重复定位精度 ≤0.5μm 服务年限 连续3年 软件交付 20+套 客户 半导体行业头部企业
🔩 精密制造

精密金属镀层表面缺陷检测 · 漏铜检测

🎬 视频1:设备及光学机构动作
🎬 视频2:软件界面及检测演示
检出率 ≥98% 误检率 ≤1% 检测类型 镀层缺陷 · 漏铜检测
📟 泛半导体 · 电子制造

PCB 3D测量(测高 · 平面度)

PCB 3D点云
📊 3D点云 / 测高结果
PCB测量软件
🖥️ 软件界面 · 平面度分析
重复精度 ≤10μm 测量项 测高 · 平面度 · 轮廓 部署方式 软件模块化部署 相机支持 线激光 · 结构光

关于我们

团队
👥 全栈团队

团队背景

核心团队掌握光学设计、运动控制、图像算法全栈能力,深耕精密检测与测量领域多年。

知识产权
📜 知识产权

知识产权

在申专利 2项
软件著作权 8 项
* 持续新增中

专注领域
🎯 专注领域

专注领域

半导体 / 泛半导体 光纤通信 精密制造 电子制造

联系我们

📧 技术咨询
tech@wxzjai.cn
📧 商务合作
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18575593584
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深圳市南山区赤湾一路10号山灵产业园A栋127

我们期待与您共同探索显微检测与3D测量的更多可能。